ROHM Semiconductor n-Kanal-SiC-Leistungs-MOSFETs der 4. Generation

Die Leistungs-MOSFETs der 4. Generation mit N-Kanal aus Siliziumcarbid (SiC) von ROHM Semiconductor bieten niedrige On-Widerstände und eine verbesserte Kurzschlusstoleranz. Die MOSFETs der 4. Generation aus SiC lassen sich einfach parallel schalten und einfach ansteuern. Die MOSFETs zeichnen sich durch schnelle Schaltgeschwindigkeiten/Sperrverzögerung, geringe Schaltverluste und eine maximale Betriebstemperatur von +175°C aus. Die N-Kanal SiC Leistungs-MOSFETs der 4. Generation von ROHM unterstützen eine 15 V Gate-Source-Spannung, die zur Energieeinsparung des Bauelements beiträgt.

Merkmale

  • Niedriger Einschaltwiderstand mit verbesserter Kurzschlussfestigkeit
  • Reduziert Schaltverluste durch drastische Reduzierung der parasitären Kapazität
  • Unterstützt eine Gate-Source-Spannung von 15 V, wodurch die Flexibilität beim Design verbessert wird
  • Hohe Schaltgeschwindigkeit
  • Schnelle Sperrverzögerung
  • Kann einfach parallelgeschaltet werden
  • Einfacher Antrieb
  • Siliziumkarbid(SiC)-Technologie
  • n-Kanal-Transistor-Polarität
  • Einkanal
  • Durchsteckmontage
  • Erweiterungsmodus
  • Maximale Betriebstemperatur: +175 °C
  • Optionen mit AEC-Q101-Qualifizierung verfügbar
  • Bleifrei, RoHS- und REACH-konform

Applikationen

  • Fahrzeuge
  • Schaltnetzteile
  • Solarwechselrichter
  • DC/DC-Wandler
  • Induktionserwärmung
  • Motorantriebe

Technische Daten

  • 3 bis 7 Pins
  • Gate-Source-Spannungsbereich von -4 V bis +21 V, Schwellenwert von 4,8 V
  • Gate-Ladungsbereich: 63 nC bis 170 nC
  • Dauersenkenstrombereich: 26 A bis 105 A
  • On-Drain-Quellenwiderstand: 13 mΩ bis 62 mΩ
  • Drain-Source-Durchschlagspannung: 750 V oder 1,2 kV
  • Anstiegszeit: 11 ns bis 57 ns
  • Abfallzeit: 9,6 ns bis 21 ns
  • Typische Verzögerungszeit
    • Einschaltzeit: 4,4 ns bis 20 ns
    • Ausschaltbereich: 22 ns bis 83 ns
  • Verlustleistungsbereich: 93 W bis 312 W
  • Verfügbare Gehäuse
    • TO-247-4L
    • TO-247N-3
    • TO-263-7L

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Leistung

Leistungsdiagramm - ROHM Semiconductor n-Kanal-SiC-Leistungs-MOSFETs der 4. Generation
Veröffentlichungsdatum: 2023-03-15 | Aktualisiert: 2025-06-18