Texas Instruments LMG3410R070 600V-70mΩ-GaN-Leistungsstufen

Die LMG3410R070 600V-70mΩ-GaN-Leistungsstufe von Texas Instruments mit integriertem Treiber und Schutzfunktionen bietet Vorteile gegenüber Silizium-MOSFETs. Diese umfassen eine extrem niedrige Ein- und Ausgangskapazität. Funktionen umfassen einen Sperrverzögerung von Null, die Schaltverluste bis zu 80 % senken kann und ein niedriges Schalterknoten-Überschwingen zur Reduzierung von EMI.

Die LMG3410R070 GaN-Leistungsstufe ermöglicht neue Wege zur Erreichung der Leistungsdichte und des Wirkungsgrads von Leistungselektronik-Systemen. Topologien mit hoher Dichte und hohem Wirkungsgrad, wie z. B. Totem-Pole-PFCs werden durch diese Vorteile ermöglicht. Ein einzigartiger Satz an Funktionen zur Vereinfachung des Designs, Maximierung der Zuverlässigkeit und Optimierung der Leistungsfähigkeit von Netzteilen ist integriert. Dies bietet eine intelligente Alternative zu herkömmlichen Kaskaden-GaN- und eigenständigen GaN-FETs. Dieser einzigartige Satz an Funktionen umfasst einen integrierten Gate-Antrieb, der eine 100V/ns-Schaltung mit einem Vds-Überschwingen von beinahe Null ermöglicht, eine Strombegrenzung von <100 ns, die sich gegen unbeabsichtigte Durchzündungsereignisse selbst schützt und ein Systemschnittstellensignal, das eine Eigenüberwachung bietet. Darüber hinaus umfassen diese Funktionen ein Systemschnittstellen-Signal mit einer Eigenüberwachungsfunktion.

Merkmale

  • Durch hart schaltende Einsatzprofile mit erhöhter Zuverlässigkeit innerhalb von Applikationen für den GaN-Prozess von TI qualifiziert
  • Ermöglicht Leistungsumwandlungs-Designs mit hoher Dichte
    • Hervorragende Systemleistung über Kaskoden- oder eigenständige GaN-FETs
    • QFN-Gehäuse von 8 mm x 8 mm mit niedriger Induktanz für ein einfaches Design und Layout
    • Anpassbare Ansteuerungskraft für Schaltleistung und EMI-Steuerung
    • Digitales Fehlerzustands-Ausgangssignal
    • Eine unregulierte Versorgung von lediglich +12 V ist erforderlich
  • Integrierter Gate-Treiber
    • Keine gemeinsame Quell-Induktivität
    • 20 ns Verzögerungszeit für MHz-Betrieb
    • Verfahrens-abgestimmte Gate-Vorspannung für Zuverlässigkeit
    • 25 bis 100 V/ns benutzereinstellbare Anstiegsrate
  • Robuster Schutz
    • Erfordert keine externen Schutzkomponenten
    • Überstromschutz mit
    • >150 V/ns Anstiegsratenfestigkeit
    • Transiente Überspannungsfestigkeit
    • Übertemperaturschutz
    • UVLO-Schutz auf allen Versorgungsschienen

Applikationen

  • Industrie- und Verbraucher-Netzteile mit hoher Dichte
  • Mehrstufige Wandler
  • Solar-Wechselrichter
  • industriellen Motorantriebe
  • Unterbrechungsfreie Netzteile
  • Hochspannungs-Akkuladegeräte

Blockdiagramm

Blockdiagramm - Texas Instruments LMG3410R070 600V-70mΩ-GaN-Leistungsstufen
Veröffentlichungsdatum: 2018-09-28 | Aktualisiert: 2023-05-31