Analog Devices Inc. LTC5597 RMS-Leistungsdetektor (0,1 bis 70 GHz)

Der Analog Devices Inc. LTC5597 RMS-Leistungsdetektor (0,1 GHz bis 70 GHz) ist zur Messung eines HF-Signals über einen großen Frequenzbereich von 100 MHz bis 70 GHz ausgelegt. Der LTC5597 misst die HF-Leistung unabhängig von Eingangswellenformen mit verschiedenen Scheitelfaktoren, wie z. B. CW-, WCDMA- und OFDM-Signalen (LTE und Wi-Fi®). Ein Dynamikbereich von bis zu 35 dB wird mit einem sehr stabilen Ausgang innerhalb des vollen Gehäusetemperaturbereichs erreicht. Dieses Bauteil eignet sich für eine große Auswahl von HF- und Mikrowellen-Applikationen, wie z. B. Punkt-zu-Punkt-Mikrowellenverbindungen, Messgeräte- und Leistungssteuerungs-Applikationen.

Die DC-Ausgangsspannung des LTC5597 RMS-Leistungsdetektors (0,1 GHz bis 70 GHz) ist eine genaue Darstellung der durchschnittlichen Signalleistung, die am HF-Eingang angelegt wird. Die Reaktion ist linear-in-dB mit einer logarithmischen Neigung von 28.5 mV/dB über einen Dynamikbereich von 35 dB mit einer Genauigkeit von typischerweise besser als ±1 dB. Dieses Bauteil eignet sich besonders für die Messung von Wellenformen mit einem Scheitelfaktor (CF) von bis zu 12 dB und Wellenformen, die während der Messung eine signifikante Abweichung des Scheitelfaktors aufweisen.

Um eine höhere Genauigkeit und eine niedrigere Ausgangswelligkeit zu erreichen, kann ein Kondensator, der zwischen den FLTR- und OUT-Pins verbunden ist, die Durchschnittsbandbreite extern anpassen. Die Freigabe-Schnittstelle schaltet das Bauteil zwischen dem aktiven Messmodus und einem stromsparenden Abschaltmodus.

Der RMS-Leistungsdetektor LTC5597 von Analog Devices ist in einem kompakten 8-Pin-DFN-Gehäuse (Dual Flat No-Lead, DFN) erhältlich und eignet sich hervorragend für platzbeschränkte Applikationen.

Merkmale

  • Extrem großer angepasster Eingangsfrequenzbereich: 100 MHz bis 70 GHz
  • Linearer Dynamikbereich (< ± 1dB Fehler): 35 dB
  • Logarithmische Steigung: 28,5 mV/dB
  • Flaches Frequenzverhalten von 100 MHz bis 60 GHz: ±2 dB
  • Genaue RMS-Leistungsmessung von hohen Scheitelfaktoren bis zu 12 dB, unabhängig von Eingangs-Wellenformen
  • Stromsparender Abschaltmodus
  • Niedriger 33 mA Versorgungsstrom bei 3 V (typ.)
  • Betriebstemperaturbereiche
    • -40 °C bis +105 °C (LTC5597I)
    • -40 °C bis +125 °C (LTC5597H)
  • Garantierter logarithmische Steigung und logarithmischer Schnittpunkt
  • ESD-Werte
    • 2.500 V HBM
    • 1.500 V CDM
  • DFN8-Kunststoffgehäuse mit freiliegendem Pad von 2 mm × 2 mm

Applikationen

  • Punkt-zu-Punkt-Mikrowellenverbindungen
  • 5G-, LTE-, WLAN- und drahtlose Netzwerke
  • SATCOM
  • Messgeräte und Messanlagen
  • Militärfunkgeräte
  • RMS-Leistungsmessung
  • Empfangs- und Übertragungs-Verstärkungsregelung
  • HF-PA-Sendeleistungssteuerung

Typische Applikations-Schaltung

Applikations-Schaltungsdiagramm - Analog Devices Inc. LTC5597 RMS-Leistungsdetektor (0,1 bis 70 GHz)

Pin-Bezeichnungen und Gehäuseabmessungen

Technische Zeichnung - Analog Devices Inc. LTC5597 RMS-Leistungsdetektor (0,1 bis 70 GHz)

Ausgangsspannung gegenüber Frequenz

Leistungsdiagramm - Analog Devices Inc. LTC5597 RMS-Leistungsdetektor (0,1 bis 70 GHz)

Ausgangsspannung gegenüber HF-Eingangsleistung

Leistungsdiagramm - Analog Devices Inc. LTC5597 RMS-Leistungsdetektor (0,1 bis 70 GHz)
Veröffentlichungsdatum: 2020-08-05 | Aktualisiert: 2024-10-28