Nexperia NEVB-NID1100UL Evaluierungsboard

Nexperia NEVB-NID1100UL Evaluierungsboards sind ein vielseitiges Werkzeug, das Testen und Evaluieren idealerNID1100-Dioden erleichtert. Diese zweilagige Leiterplatte enthält zwei NID1100-Dioden und einen PMOS-Transistor, sodass Sie die Leistung der Diode unter verschiedenen Bedingungen testen können. Das Nexperia NEVB-NID1100UL Board unterstützt einen Eingangsspannungsbereich von 1,5 V bis 5,5 V und kann einen Dauerausgangsstrom von bis zu 1 A verarbeiten. Das Board verfügt über mehrere Stromversorgungseingänge, darunter drei Standardeingänge und zwei optionale USB-C-Eingänge, die Flexibilität für verschiedene Testszenarien bieten. Die Platine enthält außerdem Jumper für die Auswahl des Anwendungsfalls und Testpins für den einfachen Zugriff auf alle Gerätepins. Darüber hinaus bietet es die Möglichkeit, Kurzschlusstests durchzuführen, was es zu einem hervorragenden Hilfsmittel für eine umfassende Bewertung der NID1100-Fähigkeiten macht.

Merkmale

  • 2-lagige Platine mit zwei idealen NID1100-Dioden und einem PMOS-Transistor
  • Eingangs-Betriebsspannungsbereich (VIN): 1,5 V bis 5,5 V
  • 1 A Dauerausgangsstrom
  • Drei Versorgungseingänge – VIN1, VIN2 und VIN3
  • Zwei optionale USB Type-C® Versorgungseingänge für VIN1 und VIN2
  • Zugriff auf alle Gerätepins
  • Auswahl des Anwendungsfalls über Jumper
  • Kurzschlusstest

Applikationen

  • Internet der Dinge (IoT) Systeme
  • Gas und intelligente Zähler
  • CO-Detektoren
  • Batterie-Backup-Systeme
  • USB-betriebene Geräte

Jumper-Positionen/Versorgungsanschlüsse

Schaltungsanordnung - Nexperia NEVB-NID1100UL Evaluierungsboard
Veröffentlichungsdatum: 2025-04-02 | Aktualisiert: 2025-05-22