Analog Devices Inc. ADG1534 Logikkompatibler 1,8-V-Quad-SPDT-Schalter
Der Analog Devices Inc. ADG1534 1,8-V-Logik-kompatible Quad-SPDT-Schalter enthält vier unabhängige SPDT-Schalter in einem kleinen LFCSP-20-Gehäuse von 4 mm2. Ein EN-Eingang am ADG1534 aktiviert oder deaktiviert das Bauteil. Bei Deaktivierung bieten alle Kanäle eine hohe Impedanz. Die digitalen Eingänge (INx) sind logikkompatibel mit 1,8 V Spannung und eignen sich für Niederspannungs-Logiksteuerungen. Der ADG1534 ist vollständig bei VDD = +5 V ±10 % und VSS = -4,5 V bis -8,8 V für Applikationen spezifiziert, die asymmetrische Versorgungen erfordern. Der extrem niedrige On-Widerstand und die On-Widerstand-Flachheit machen diese Schalter zur optimalen Lösung für Datenerfassungs- und Verstärkungsschaltungs-Applikationen, bei denen eine geringe Verzerrung entscheidend ist. Die Bauweise sorgt für eine extrem geringe Verlustleistung, wodurch sich das Bauteil für tragbare und batteriebetriebene Instrumente eignet.Der ADG1534 Quad-SPDT-Schalter von Analog Devices Inc. leitet im eingeschalteten Zustand in beide Richtungen gleichermaßen gut und verfügt über einen Eingangssignalbereich, der bis zu Netzteilen reicht. Im Aus-Zustand werden Signalpegel bis zu den Netzteilen blockiert. Alle Kanäle weisen eine Unterbrechungsschaltfunktion auf, die ein kurzzeitiges Kurzschließen beim Kanalwechsel verhindert.
Merkmale
- 4,5 Ω typ. On-Widerstand für +5 V bis -8 V Versorgung bei +25 °C
- 1,2 Ω On-Widerstand-Flachheit für +5 V bis -8 V Versorgung bei +25 °C
- Bis zu 346mAA Dauerstrom
- Vollständig spezifiziert
- VDD = +5 V ±10 %
- VSS = -4,5 V bis -8,8 V
- Keine VL-Versorgung erforderlich
- Logikkompatible 1,8-V-Eingänge
- Rail-to-rail-Betrieb
- 8 Ω maximaler On-Widerstand über Temperatur
- Minimale Verzerrung
- Logikkompatible 1,8-V-Digitaleingänge
- -40°C bis +125°C Betriebstemperaturbereich
- 20-Pin-LFCSP-Gehäuse, 4 mm x 4 mm
- RoHS-konform
Applikationen
- LDMOS-Leistungsverstärker-Gate-Treiber
- GaN-Leistungsverstärker-Gate-Treiber
- Kommunikationssysteme
- Automatische Testausstattung
- Datenerfassungssysteme
- Abtast- und Halteschaltung (Sample and Hold)
Funktionales Blockdiagramm
Veröffentlichungsdatum: 2024-01-12
| Aktualisiert: 2024-01-19
