NAFE33352 Evaluierungsboards

NAFE33352 Evaluierungsplatinen von NXP Semiconductors sind zur Prüfung des NAFE33352 konzipiert, eines softwarekonfigurierbaren universellen analogen Eingangs- und Ausgangs- (AIO) -analog- Frontends (AFE), das die hochpräzisen Messungs- und Steuerungsanforderungen von Applikationen erfüllt. Die hochintegrierte und innovative SystemArchitektur von NXP Semiconductors NAFE33352umfasst einen präzisen 14/16/18-Bit-Digital-Analog- Wechselrichter (DAC) und einen 16/24-Bit-Analog-Digital- Wechselrichter (ADC), eine Spannungsreferenz mit geringer Drift, Puffer mit geringer Offset- Drift sowie Hochspannungs- und Hochpräzisions-Verstärker mit einer 70 V- Eingangsschutz-Schaltung für EMC und Fehlverdrahtungsszenarien, wodurch echte Software und konfigurierbare universelle analoge Ein- und Ausgänge ermöglicht werden.