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Test & Burn-in-Buchsen
Yamaichi bietet die branchenweit umfangreichste Palette von Test & Burn-in-Buchsen. Da sie Yamaichi Electronics' Compression Mount Technology (CMT) nutzen, erfüllen die CMT Serie Test & Burn-in-Buchsen die anspruchsvollen Designspezifikationen für leistungsstarke Burn-in-Socketing-Anwendungen. Die Serie besitzt Kontaktstifte, die mit LGA oder BGA Anwendungen konfiguriert werden können, und eine Modulbauweise für einfaches Austauschen von Buchsenkomponenten. CMT Serien Test & Burn-in-Buchsen bieten herausragende elektrische Leistung mit einem stabilen Kontaktwiderstand und niedriger Induktanz für ein Minimum von 10 000 Ansteckvorgänge in einem Betriebstemperaturbereich von -55°C bis +170°C. Erhältlich in verschiedenen Gehäusen einschließlich Plastic Lead Chip Carrier (PLCC), SOP (Small Outline Package) und QFP (Quad Flat Package). Zusätzliche Merkmale wie Zwei-Punkt-Kontaktbauweise für hohe Zuverlässigkeit und "One Touch" automatischer Auswurf für einfache IC-Entfernung sind ebenfalls verfübgar je nach Buchsengehäuse.