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Menge RoHS ECAD Model Serie
Montageart
Verpackung/Gehäuse
Auflösung
Anzahl der Kanäle
Schnittstellen-Typ
Samplingrate
Eingangsart
Signal-Rausch-Verhältnis (SNR)
Minimale Betriebstemperatur
Maximale Betriebstemperatur
Verpackung
Texas Instruments Analog-in-Digital-Wandler - ADC Dual-channel 14-bit 2.6-GSPS RF-sampling
Datenblatt
Nicht-auf-Lager-Vorlaufzeit 18 Wochen
Min.: 260
Mult.: 260

ADC32RF54 SMD/SMT VQFN-64 14 bit 2 Channel SPI 2.6 GS/s Differential 68.6 dBFS - 40 C + 85 C Tray
Texas Instruments Analog-in-Digital-Wandler - ADC Dual-channel 14-bit 2.6-GSPS RF-sampling
Datenblatt
Nicht-auf-Lager-Vorlaufzeit 18 Wochen
Min.: 250
Mult.: 250
: 250

ADC32RF54 SMD/SMT VQFN-64 14 bit 2 Channel SPI 2.6 GS/s Differential 68.6 dBFS - 40 C + 85 C Reel
Texas Instruments Analog-in-Digital-Wandler - ADC Dual-channel 14-bit 3-GSPS RF-sampling A
Datenblatt
Nicht-auf-Lager-Vorlaufzeit 18 Wochen
Min.: 260
Mult.: 260

ADC32RF55 SMD/SMT VQFN-64 14 bit 2 Channel SPI 3 GS/s Differential 68.6 dB - 40 C + 85 C
Texas Instruments Analog-in-Digital-Wandler - ADC Dual-channel 14-bit 3-GSPS RF-sampling A
Datenblatt
Nicht-auf-Lager-Vorlaufzeit 18 Wochen
Min.: 250
Mult.: 250
: 250

ADC32RF55 SMD/SMT VQFN-64 14 bit 2 Channel SPI 3 GS/s Differential 68.6 dB - 40 C + 85 C Reel