Analog Devices Inc. EVAL-AD5761RSDZ Testplatine

Die EVAL-AD5761RSDZ Testplatine von Analog Devices ist eine voll ausgestattete Testplatine, die dem Entwickler die schnelle und einfache Bewertung der Funktionen und Fähigkeiten der AD5761R 16-Bit Ausgangsspannung-DACs ermöglicht. Die AD5761R DACs können mit einer Versorgungsspannung zwischen 4,75V und 30V oder dualer Versorgungsspannung zwischen -16,5V und 0V VSS sowie 4,75V und 16,5V VDD betrieben werden. Mit ihrem integrierten Ausgangsverstärker, Referenzpuffer und Steuerkreisen zum Ein-/Ausschalten, bieten die AD5761 DACs eine benutzerfreundliche Universallösung. Entwickler verwenden die AD5761R DACs in den Bereichen Industrieautomatisierung, Datenerfassung, offene/geschlossene Servosteuerung, Prozesssteuerung und Speicherprogrammierbare Steuerungen. Entwickler können die EVAL-AD5761RSDZ Testplatine mit zwei Methoden steuern: über den the On-Board-Steckverbinder (J3) oder über den SDP-Steckverbinder (J4). Die SDP-Platine ermöglicht Entwicklern, die Testplatine mit der AD5761R Test-Software über den USB-Anschluss eines PCs mit Windows® XP (SP2 oder höher) oder Windows Vista (32-Bit) zu steuern.

Designers can use the AD5761R DACs in industrial automation, instrumentation, data acquisition, open-/closed-loop servo control, process control, and programmable logic controllers. Designers can control the EVAL-AD5761RSDZ evaluation board by two methods: via the on-board connector (J3), or via the SDP connector (J4). The SDP board allows designers to control the evaluation board through the USB port of a Windows® XP (SP2 or later) or Windows Vista (32-bit) based PC using the AD5761R evaluation software.

Merkmale

  • PC control in conjunction with the EVAL-SDP-CB1Z system demonstration platform (SDP)
  • PC software for control
  • Full-featured evaluation board for the AD5761R DACs
  • Link options

Applikationen

  • Industrial automation
  • Instrumentation
  • Data acquisition
  • Open- or closed-loop servo control
  • Process control
  • Programmable logic controllers

Functional Block Diagram

Analog Devices Inc. EVAL-AD5761RSDZ Testplatine
Veröffentlichungsdatum: 2015-06-16 | Aktualisiert: 2022-03-11