RN55E2490BB14

Vishay / Dale
71-RN55E-B-249
RN55E2490BB14

Herst.:

Beschreibung:
Metallschichtwiderstände - Durchgangsloch 1/8watt 249ohms .1% 25ppm

Datenblatt:
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Vishay
Produktkategorie: Metallschichtwiderstände - Durchgangsloch
RoHS: N
RN
249 Ohms
125 mW (1/8 W)
0.1 %
25 PPM / C
- 65 C
+ 175 C
200 V
2.29 mm
6.1 mm
Axial
Bulk
Metal Film Resistors Controlled Temp Coefficient
Fixed Resistor
Marke: Vishay / Dale
Land der Bestückung: Not Available
Land der Verbreitung: Not Available
Ursprungsland: US
Anschlussdrahtdurchmesser: 0.64 mm
Montageart: PCB Mount
Produkt-Typ: Metal Film Resistors
Verpackung ab Werk: 100
Unterkategorie: Resistors
Technologie: Metal Film
Gewicht pro Stück: 210 mg
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Ausgewählte Attribute: 0

Datenblatt

Technical Resources

TARIC:
8533210000
CNHTS:
8533219000
CAHTS:
8533210000
USHTS:
8533210090
JPHTS:
853321000
KRHTS:
8533219000
MXHTS:
8533210100
BRHTS:
85332190
ECCN:
EAR99

Medizinische Lösungen

Die Engineer's Toolbox für medizinische Applikationen von Vishay hebt die einzigartige Lösungen für Röntgengeräte, Patientenüberwachung, Herzschrittmacher, Blutzucker-Messgeräte und MRT hervor.

CMF MIL RN-Baureihe Metallschichtwiderstände

Vishay/Dale CMF Militär-Metallschichtwiderstände der RN-Baureihe sind MIL-R-10509-qualifiziert, um die anspruchsvollen Applikationsanforderungen der Verteidigungs-, Avionik- sowie Luft- und Raumfahrtindustrie zu erfüllen. Die Widerstände haben einen niedrigen Rauschwert von -40 dB, einen niedrigen Spannungskoeffizienten von 5 ppm/V und einen geregelten Temperaturkoeffizienten. Die RN-Baureihe hat eine flammenhemmende Epoxidbeschichtung mit einem Nickel-Chrom-Legierungselement und Standard-Leitungsanschlüssen. Die Widerstände arbeiten in einem großen Widerstandsbereich von 10Ω bis 301 KΩ bei ±100 ppm/°C. Die CMF Militär-Metallschichtwiderstände der RN-Baureihe von Vishay/Dale eignen sich hervorragend für verschiedene militärische Anwendungen, einschließlich Flugzeuge, Satelliten, Kommunikationssysteme, Schiffsschiffe, Sonar, Waffen, Radar und medizinische Messgeräte.

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